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高頻率下使用的IC測試座需要具備哪些特殊性能?

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深圳市欣同達科技有限公司2025-04-05

高頻率下使用的測試座需要具備良好的高頻特性,包括低插入損耗、低反射系數、高隔離度等。此外,還應具有較小的寄生電容和電感,以減少對高頻信號的影響。同時,測試座的結構設計也應考慮到高頻信號的傳輸特性,如采用屏蔽結構、優化布線等,以提高信號的完整性和穩定性。

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簡介:研發、生產和銷售半導體芯片測試插座。提供定制化的測試插座方案
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